1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством приборостроения, средств автоматизации и систем управления
Отправить по почте
МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ Магнитопорошковый метод ГОСТ 21105-87
Взамен вводится ГОСТ ISO 9934-2-2021 в части требований к основным свойствам материалов, используемых в магнитопорошковом контроле (включая магнитные суспензии, магнитный порошок, дисперсионную среду, контрастные краски), а также способам проверки их свойств, в соответствии с Приложением № 9 к протоколу МГС № 60-2021 С изменениями и дополнениями № 1 (ИУС 1-1990)
Nondestructive testing. Method of magnetic particle testing
Дата введения 1988-01-01
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством приборостроения, средств автоматизации и систем управления
2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 23.01.87 N 87
3. ВЗАМЕН ГОСТ 21105-75
4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ
Обозначение НТД, на который дана ссылка |
Номер пункта, подпункта, приложения |
|||
|
|
|||
ГОСТ 3.1502-85 |
1.7 |
|||
ГОСТ 12.0.004-90 |
5.2 |
|||
ГОСТ 12.1.004-91 |
5.10 |
|||
ГОСТ 12.1.005-88 |
5.6 |
|||
ГОСТ 12.1.007-76 |
5.6 |
|||
ГОСТ 12.1.019-79 |
5.8 |
|||
ГОСТ 12.1.030-81 |
5.9 |
|||
ГОСТ 12.2.003-91 |
5.4 |
|||
ГОСТ 12.2.007.0-75 |
5.8 |
|||
ГОСТ 12.2.032-78 |
5.5 |
|||
ГОСТ 12.2.033-78 |
5.5 |
|||
ГОСТ 12.2.049-80 |
5.4 |
|||
ГОСТ 12.2.061-81 |
5.5 |
|||
ГОСТ 12.2.062-81 |
5.5 |
|||
ГОСТ 12.3.002-75 |
5.1 |
|||
ГОСТ 12.3.020-80 |
5.3 |
|||
ГОСТ 12.4.013-85 |
5.19 |
|||
ГОСТ 12.4.021-75 |
5.6 |
|||
ГОСТ 12.4.023-84 |
5.12 |
|||
ГОСТ 12.4.068-79 |
5.11 |
|||
ГОСТ 1435-99 |
Приложение 3 |
|||
ГОСТ 2789-73 |
Приложение 3 |
|||
ГОСТ 5632-72 |
Приложение 3 |
|||
ГОСТ 9411-91 |
5.19 |
|||
ГОСТ 18442-80 |
4.6.3 |
|||
ГОСТ 24450-80 |
Вводная часть |
|||
ТУ 17-08-249-86 |
5.11 |
5. ИЗДАНИЕ с Изменением N 1, утвержденным в сентябре 1989 г. (ИУС 1-90)
Настоящий стандарт распространяется на магнитопорошковый метод неразрушающего контроля деталей, изделий и полуфабрикатов из ферромагнитных материалов с относительной магнитной проницаемостью не менее 40 (далее - объекты контроля).
Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их определения - по ГОСТ 24450 .
Пояснения терминов, применяемых в настоящем стандарте, приведены в приложении 1.
1. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ
1.1. Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля основан на явлении притяжения частиц магнитного порошка магнитными потоками рассеяния, возникающими над дефектами в намагниченных объектах контроля.
Наличие и протяженность индикаторных рисунков, вызванных полями рассеяния дефектов, можно регистрировать визуально или автоматическими устройствами обработки изображения.
1.2. Магнитопорошковый метод предназначен для выявления поверхностных и подповерхностных нарушений сплошности: волосовин, трещин различного происхождения, непроваров сварных соединений, флокенов, закатов, надрывов и т.п.
1.3. Магнитопорошковый метод применяют для контроля объектов из ферромагнитных материалов с магнитными свойствами, позволяющими создавать в местах нарушения сплошности магнитные поля рассеяния, достаточные для притяжения частиц магнитного порошка.
Метод может быть использован для контроля объектов с немагнитными покрытиями.
1.4. Чувствительность магнитопорошкового метода определяется магнитными характеристиками материала объекта контроля, его формой, размерами и шероховатостью поверхности, напряженностью намагничивающего поля, местоположением и ориентацией дефектов, взаимным направлением намагничивающего поля и дефекта, свойствами дефектоскопического материала, способом его нанесения на объект контроля, а также способом и условиями регистрации индикаторного рисунка выявляемых дефектов.
1.5. В зависимости от размеров выявляемых дефектов устанавливаются три условных уровня чувствительности, приведенные в табл.1.
Таблица 1
Условный уровень чувствительности |
Минимальная ширина раскрытия условного дефекта, мкм |
Минимальная протяженность условного дефекта, мм |
А |
2,0 |
0,5 |
Б |
10,0 |
|
В |
25,0 |
|
Примечания:
1. Условный уровень чувствительности А достигается при параметре шероховатости контролируемой поверхности 2,5 мкм, уровни чувствительности Б и В - при 10 мкм.
2. При выявлении подповерхностных дефектов, а также при 10 мкм чувствительность метода понижается и условный уровень чувствительности не нормируется.
3. При контроле изделий с немагнитными покрытиями с увеличением толщины покрытия чувствительность метода понижается.
(Измененная редакция, Изменение № 1)
1.6. Вид, местоположение и ориентация недопустимых дефектов, а также необходимый уровень чувствительности контроля конкретных изделий устанавливаются в отраслевой нормативно-технической документации на контроль изделий.
1.7. Магнитопорошковый контроль проводится по технологическим картам согласно ГОСТ 3.1102 и ГОСТ 3.1502 , в которых указывают: наименование изделия (узла), наименование и номер детали, эскиз детали с указанием габаритных размеров, зону контроля, способ контроля, вид и схему намагничивания, значения намагничивающего тока или напряженности магнитного поля, средства контроля (аппаратура, дефектоскопические материалы), нормы на отбраковку.
2. ТРЕБОВАНИЯ К АППАРАТУРЕ
2.1. При контроле магнитопорошковым методом применяют стационарные, передвижные и переносные дефектоскопы по нормативно-технической документации.
Допускается применять специализированные дефектоскопы, предназначенные для контроля конкретных изделий.
2.2. В зависимости от назначения дефектоскопы включают в себя следующие функциональные устройства:
- блок питания;
- блок формирования намагничивающего тока;
- намагничивающие устройства;
- устройство для размагничивания;
- устройство для нанесения дефектоскопических материалов;
- блок автоматического управления технологическими операциями контроля;
- исполнительные устройства для осуществления автоматических операций контроля;
- приборы и устройства для контроля качества дефектоскопических материалов и технологических процессов;
- устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов.
2.3. Дефектоскопы должны быть снабжены измерителями намагничивающего тока. Погрешность измерений не должна превышать 10%.
2.4. Дефектоскопы общего назначения должны обеспечивать возможность размагничивания объектов контроля.
2.5. Дефектоскопы, в которых намагничивание изделий осуществляется переменным, выпрямленным или импульсным токами, при контроле способом остаточной намагниченности должны обеспечивать выключение тока в момент времени, при котором значение остаточной индукции составляет не менее 0,9 ее максимального значения для данного материала при выбранном режиме.
2.6. В дефектоскопах при контроле способом остаточной намагниченности не допускается использовать в качестве намагничивающих устройств электромагниты постоянного тока, а также другие устройства, в которых снижение магнитного потока от максимального значения до нуля при намагничивании происходит в течение времени, превышающего 5 мс.
2.7. Устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов включают в себя: УФ-облучатели, оптические устройства (лупы; бинокулярные, стереоскопические микроскопы; зеркала; эндоскопы), а также автоматизированные системы отработки изображений.
2.8. Требования к специализированным дефектоскопам устанавливают в отраслевой нормативно-технической документации на контроль конкретных изделий.
3. ТРЕБОВАНИЯ К ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКИМ МАТЕРИАЛАМ
3.1. При магнитопорошковом методе контроля применяют магнитные дефектоскопические материалы: порошки, суспензии и магнитогуммированные пасты.