• Мое избранное
  • Сохранить в Word
  • Сохранить в Word
    (альбомная ориентация)
  • Сохранить в Word
    (с оглавлением)
  • Сохранить в PDF
  • Отправить по почте
Документ показан в демонстрационном режиме! Стоимость: 2400 тг/год

Отправить по почте

МЕЖГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ КОНТРОЛЬ НЕРАЗРУШАЮЩИЙ Магнитопорошковый метод ГОСТ 21105-87

Взамен вводится ГОСТ ISO 9934-2-2021 в части требований к основным свойствам материалов, используемых в магнитопорошковом контроле (включая магнитные суспензии, магнитный порошок, дисперсионную среду, контрастные краски), а также способам проверки их свойств, в соответствии с Приложением № 9 к протоколу МГС № 60-2021
С изменениями и дополнениями № 1 (ИУС 1-1990)
Nondestructive testing. Method of magnetic particle testing
Дата введения 1988-01-01
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством приборостроения, средств автоматизации и систем управления
2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 23.01.87 N 87
3. ВЗАМЕН ГОСТ 21105-75
4. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ
       
 

Обозначение НТД, на который дана ссылка

Номер пункта, подпункта, приложения

 
 



ГОСТ 3.1102-81



1.7

 
 

ГОСТ 3.1502-85

1.7

 
 

ГОСТ 12.0.004-90

5.2

 
 

ГОСТ 12.1.004-91

5.10

 
 

ГОСТ 12.1.005-88

5.6

 
 

ГОСТ 12.1.007-76

5.6

 
 

ГОСТ 12.1.019-79

5.8

 
 

ГОСТ 12.1.030-81

5.9

 
 

ГОСТ 12.2.003-91

5.4

 
 

ГОСТ 12.2.007.0-75

5.8

 
 

ГОСТ 12.2.032-78

5.5

 
 

ГОСТ 12.2.033-78

5.5

 
 

ГОСТ 12.2.049-80

5.4

 
 

ГОСТ 12.2.061-81

5.5

 
 

ГОСТ 12.2.062-81

5.5

 
 

ГОСТ 12.3.002-75

5.1

 
 

ГОСТ 12.3.020-80

5.3

 
 

ГОСТ 12.4.013-85

5.19

 
 

ГОСТ 12.4.021-75

5.6

 
 

ГОСТ 12.4.023-84

5.12

 
 

ГОСТ 12.4.068-79

5.11

 
 

ГОСТ 1435-99

Приложение 3

 
 

ГОСТ 2789-73

Приложение 3

 
 

ГОСТ 5632-72

Приложение 3

 
 

ГОСТ 9411-91

5.19

 
 

ГОСТ 18442-80

4.6.3

 
 

ГОСТ 24450-80

Вводная часть

 
 

ТУ 17-08-249-86

5.11

 
5. ИЗДАНИЕ с Изменением N 1, утвержденным в сентябре 1989 г. (ИУС 1-90)
Настоящий стандарт распространяется на магнитопорошковый метод неразрушающего контроля деталей, изделий и полуфабрикатов из ферромагнитных материалов с относительной магнитной проницаемостью не менее 40 (далее - объекты контроля).
Термины, применяемые в настоящем стандарте, и их определения - по ГОСТ 24450 . 
Пояснения терминов, применяемых в настоящем стандарте, приведены в приложении 1.
1. ОСНОВНЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ
1.1. Магнитопорошковый метод неразрушающего контроля основан на явлении притяжения частиц магнитного порошка магнитными потоками рассеяния, возникающими над дефектами в намагниченных объектах контроля.
Наличие и протяженность индикаторных рисунков, вызванных полями рассеяния дефектов, можно регистрировать визуально или автоматическими устройствами обработки изображения.
1.2. Магнитопорошковый метод предназначен для выявления поверхностных и подповерхностных нарушений сплошности: волосовин, трещин различного происхождения, непроваров сварных соединений, флокенов, закатов, надрывов и т.п.
1.3. Магнитопорошковый метод применяют для контроля объектов из ферромагнитных материалов с магнитными свойствами, позволяющими создавать в местах нарушения сплошности магнитные поля рассеяния, достаточные для притяжения частиц магнитного порошка.
Метод может быть использован для контроля объектов с немагнитными покрытиями.
1.4. Чувствительность магнитопорошкового метода определяется магнитными характеристиками материала объекта контроля, его формой, размерами и шероховатостью поверхности, напряженностью намагничивающего поля, местоположением и ориентацией дефектов, взаимным направлением намагничивающего поля и дефекта, свойствами дефектоскопического материала, способом его нанесения на объект контроля, а также способом и условиями регистрации индикаторного рисунка выявляемых дефектов.
1.5. В зависимости от размеров выявляемых дефектов устанавливаются три условных уровня чувствительности, приведенные в табл.1.
Таблица 1
     

Условный уровень чувствительности

Минимальная ширина раскрытия условного дефекта, мкм

Минимальная протяженность условного дефекта, мм

А

2,0

0,5

Б

10,0

 

В

25,0

 

Примечания:
1. Условный уровень чувствительности А достигается при параметре шероховатости контролируемой поверхности  2,5 мкм, уровни чувствительности Б и В - при  10 мкм.
2. При выявлении подповерхностных дефектов, а также при  10 мкм чувствительность метода понижается и условный уровень чувствительности не нормируется.
3. При контроле изделий с немагнитными покрытиями с увеличением толщины покрытия чувствительность метода понижается.
(Измененная редакция, Изменение № 1)
1.6. Вид, местоположение и ориентация недопустимых дефектов, а также необходимый уровень чувствительности контроля конкретных изделий устанавливаются в отраслевой нормативно-технической документации на контроль изделий.
1.7. Магнитопорошковый контроль проводится по технологическим картам согласно ГОСТ 3.1102  и ГОСТ 3.1502 , в которых указывают: наименование изделия (узла), наименование и номер детали, эскиз детали с указанием габаритных размеров, зону контроля, способ контроля, вид и схему намагничивания, значения намагничивающего тока или напряженности магнитного поля, средства контроля (аппаратура, дефектоскопические материалы), нормы на отбраковку.
2. ТРЕБОВАНИЯ К АППАРАТУРЕ
2.1. При контроле магнитопорошковым методом применяют стационарные, передвижные и переносные дефектоскопы по нормативно-технической документации.
Допускается применять специализированные дефектоскопы, предназначенные для контроля конкретных изделий.
2.2. В зависимости от назначения дефектоскопы включают в себя следующие функциональные устройства:
- блок питания;
- блок формирования намагничивающего тока;
- намагничивающие устройства;
- устройство для размагничивания;
- устройство для нанесения дефектоскопических материалов;
- блок автоматического управления технологическими операциями контроля;
- исполнительные устройства для осуществления автоматических операций контроля;
- приборы и устройства для контроля качества дефектоскопических материалов и технологических процессов;
- устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов.
2.3. Дефектоскопы должны быть снабжены измерителями намагничивающего тока. Погрешность измерений не должна превышать 10%.
2.4. Дефектоскопы общего назначения должны обеспечивать возможность размагничивания объектов контроля.
2.5. Дефектоскопы, в которых намагничивание изделий осуществляется переменным, выпрямленным или импульсным токами, при контроле способом остаточной намагниченности должны обеспечивать выключение тока в момент времени, при котором значение остаточной индукции составляет не менее 0,9 ее максимального значения для данного материала при выбранном режиме.
2.6. В дефектоскопах при контроле способом остаточной намагниченности не допускается использовать в качестве намагничивающих устройств электромагниты постоянного тока, а также другие устройства, в которых снижение магнитного потока от максимального значения до нуля при намагничивании происходит в течение времени, превышающего 5 мс.
2.7. Устройства для осмотра контролируемой поверхности и регистрации дефектов включают в себя: УФ-облучатели, оптические устройства (лупы; бинокулярные, стереоскопические микроскопы; зеркала; эндоскопы), а также автоматизированные системы отработки изображений.
2.8. Требования к специализированным дефектоскопам устанавливают в отраслевой нормативно-технической документации на контроль конкретных изделий.
3. ТРЕБОВАНИЯ К ДЕФЕКТОСКОПИЧЕСКИМ МАТЕРИАЛАМ
3.1. При магнитопорошковом методе контроля применяют магнитные дефектоскопические материалы: порошки, суспензии и магнитогуммированные пасты.