• Мое избранное
  • Сохранить в Word
  • Сохранить в Word
    (альбомная ориентация)
  • Сохранить в Word
    (с оглавлением)
  • Сохранить в PDF
  • Отправить по почте
Государственная система обеспечения единства измерений. Государственная поверочная схема для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности в диапозоне длин волн от 0,25 до 25,00 мкм; силы излучения и энергетической освещенности в диапозоне длин волн от 0,2 до 25,0 мкм
Внимание! Документ утратил силу с 01.01.2015 г.
Документ показан в демонстрационном режиме! Стоимость: 800 тг/год

Отправить по почте

Toggle Dropdown
  • Комментировать
  • Поставить закладку
  • Оставить заметку
  • Информация new
  • Скопировать ссылку
  • Редакции абзаца 
ГОСУДАРСТВЕННЫЙ СТАНДАРТ СОЮЗА ССР
Государственная система обеспечения единства измерений
ГОСУДАРСТВЕННАЯ ПОВЕРОЧНАЯ СХЕМА ДЛЯ СРЕДСТВ ИЗМЕРЕНИЙ СПЕКТРАЛЬНОЙ ПЛОТНОСТИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ЯРКОСТИ, СПЕКТРАЛЬНОЙ ПЛОТНОСТИ СИЛЫ ИЗЛУЧЕНИЯ И СПЕКТРАЛЬНОЙ ПЛОТНОСТИ ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ОСВЕЩЕННОСТИ В ДИАПАЗОНЕ ДЛИН ВОЛН 0,25 25,00 мкм; СИЛЫ ИЗЛУЧЕНИЯ И ЭНЕРГЕТИЧЕСКОЙ ОСВЕЩЕННОСТИ В ДИАПАЗОНЕ ДЛИН ВОЛН 0,2 25,0 мкм
ГОСТ 8.195-89
State system for ensuring the uniformity of measurements. State verification scnedule for means measuring spectral density of radiance spectral density of radiant intensity and spectral density of irradiance in the wavelength range of 0,25 25,00 mu; radiant intensity and irradiance in the wavelength range of 0,2 25,0 mu
Взамен введен ГОСТ 8.195-2013
Дата введения 1990-01-01
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Государственным комитетом СССР по стандартам
ИСПОЛНИТЕЛИ
В.И.Саприцкий, канд. физ.-мат. наук (руководитель темы); В.П.Кузнецов; С.Н.Мехонцев; О.А.Минаева; И.В.Никитина; М.Н.Павлович, канд. техн. наук; Г.Д.Харченко
2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ Постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 2.02.89 N 11
3. ВЗАМЕН ГОСТ 8.195-81 , ГОСТ 8.522-85 , МИ 1615-87 , МИ 1685-87 
Настоящий стандарт распространяется на государственную поверочную схему для средств измерений спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности в диапазоне длин волн 0,25 25,00 мкм; силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн 0,2 25,0 мкм и устанавливает порядок передачи размера единиц спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности в диапазоне длин волн 0,25 25,00 мкм; силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн 0,2 25,0 мкм от государственного первичного эталона единиц спектральной плотности энергетической яркости - ватта на стерадиан-кубический метр Вт/(ср·м ), спектральной плотности силы излучения - ватта на стерадиан-метр Вт/(ср·м), спектральной плотности энергетической освещенности - ватта на кубический метр (Вт/м ) в диапазоне длин волн 0,25 25,00 мкм; силы излучения - ватта на стерадиан (Вт/ср) и энергетической освещенности - ватта на квадратный метр (Вт/м ) в диапазоне длин волн 0,2 25,0 мкм при помощи вторичных эталонов и образцовых средств измерений рабочим средствам измерений с указанием погрешностей и основных методов поверки.
1. ЭТАЛОНЫ
1.1. Государственный первичный эталон применяют для передачи размера единиц спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности в диапазоне длин волн 0,25 25,00 мкм; силы излучения и энергетической освещенности в диапазоне длин волн 0,2 25,0 мкм вторичным эталонам непосредственным сличением.
1.2. В качестве рабочих эталонов единиц спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности применяют комплексы, состоящие из излучателей (групп переменного состава ленточных ламп и моделей черного тела) в диапазоне длин волн 0,25 25,00 мкм или на отдельных его участках в диапазонах измерений 1·10  1·10  Вт/(ср·м ), 1·10  1·10  Вт/(ср·м) и 1·10  1·10  Вт/м  и системы регистрации.
В качестве рабочих эталонов единиц спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности малых уровней применяют комплексы, состоящие из излучателей (ламп накаливания, светоизлучающих диодов и моделей черного тела) в диапазоне длин волн 0,32 1,20 мкм в диапазонах измерений 1·10  1·10  Вт/(ср·м) и 1·10  1·10  Вт/м  и системы регистрации.
В качестве рабочих эталонов единицы энергетической освещенности солнечным излучением применяют комплексы, состоящие из неселективных приемников излучения (полостных или с плоской приемной площадкой), системы слежения за Солнцем в диапазоне длин волн 0,3 10,0 мкм в диапазоне измерений 400 1360 Вт/м  и системы регистрации.
В качестве рабочих эталонов единиц силы излучения и энергетической освещенности применяют комплексы, состоящие из неселективных приемников излучения (полостных или с плоской приемной площадкой), излучателей (групп переменного состава светоизмерительных ламп и моделей черного тела) в диапазоне длин волн 0,2 25,0 мкм или на отдельных его участках в диапазонах измерений 10 100 Вт/ср и 10 2000 Вт/м  и системы регистрации.
В качестве рабочих эталонов единицы энергетической освещенности малых уровней применяют комплексы, состоящие из излучателей (светоизмерительных ламп, светоизлучающих диодов и моделей черного тела) в диапазоне длин волн 0,35 1,00 мкм в диапазоне измерений 5·10  5·10  Вт
/м  и системы регистрации.
1.3. Средние квадратические отклонения результатов сличений   рабочих эталонов единиц спектральной плотности энергетической яркости, спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности с государственным не должны превышать:

	
		

			 
			 
			 
		

		

			
			
2,00·10

					
			
			
- для длины волны излучения

					
			
			
0,25 мкм;

					
		

		

			
			
1,50·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,30 мкм;

					
		

		

			
			
1,20·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,35 мкм;

					
		

		

			
			
1,00·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,40 мкм;

					
		

		

			
			
0,80·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,45 мкм;

					
		

		

			
			
0,60·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,50 мкм;

					
		

		

			
			
0,55·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,55 мкм;

					
		

		

			
			
0,50·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,60 мкм;

					
		

		

			
			
0,50·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,65 мкм;

					
		

		

			
			
0,50·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,70 мкм;

					
		

		

			
			
0,50·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,80 мкм;

					
		

		

			
			
0,50·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
0,90 мкм;

					
		

		

			
			
0,50·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
1,00 мкм;

					
		

		

			
			
0,50·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
1,10 мкм;

					
		

		

			
			
0,55·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
1,20 мкм;

					
		

		

			
			
0,57·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
1,30 мкм;

					
		

		

			
			
0,60·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
1,40 мкм;

					
		

		

			
			
0,60·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
1,50 мкм;

					
		

		

			
			
0,70·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
2,00 мкм;

					
		

		

			
			
0,75·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
2,50 мкм;

					
		

		

			
			
0,80·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
3,00 мкм;

					
		

		

			
			
0,85·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
4,00 мкм;

					
		

		

			
			
0,90·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
5,00 мкм;

					
		

		

			
			
1,20·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
10,00 мкм;

					
		

		

			
			
1,70·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
15,00 мкм;

					
		

		

			
			
2,00·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
20,00 мкм;

					
		

		

			
			
2,50·10

					
			
			
" " " "

					
			
			
25,00 мкм.

					
		

	



Средние квадратические отклонения результатов сличений  , рабочих эталонов единиц спектральной плотности силы излучения и спектральной плотности энергетической освещенности малых уровней с государственным составляют от 1·10  до 2·10 .
Средние квадратические отклонения результатов сличений   рабочих эталонов единицы энергетической освещенности солнечным излучением с государственным не должны превышать 0,2·10 .