ОКСТУ 0072
ГОСТ 14782-86 Контроль неразрушающий Соединения сварные Методы ультразвуковые Nondestructive testing. Welded joints. Ultrasonic methods
Дата введения 01.01.88
ИНФОРМАЦИОННЫЕ ДАННЫЕ
1. РАЗРАБОТАН И ВНЕСЕН Министерством путей сообщения СССР
2. УТВЕРЖДЕН И ВВЕДЕН В ДЕЙСТВИЕ постановлением Государственного комитета СССР по стандартам от 17 декабря 1986 г. № 3926.
3. ВЗАМЕН ГОСТ 14782-76, ГОСТ 22368-77.
4. В стандарте учтены требования СТ СЭВ 2857-81 и Рекомендации СЭВ РС 5246-75.
5. ССЫЛОЧНЫЕ НОРМАТИВНО-ТЕХНИЧЕСКИЕ ДОКУМЕНТЫ
| Обозначение НТД, на который дана ссылка | Номер пункта, подпункта, перечисления, приложения |
| ГОСТ 8.315-97 ГОСТ 8.326-89 ГОСТ 12.1.001-89 ГОСТ 12.1.003-83 ГОСТ 12.1.004-91 ГОСТ 12.2.003-91 ГОСТ 12.3.002-75 ГОСТ 1050-88 ГОСТ 2789-73 ГОСТ 14637-89 ГОСТ 17622-72 ГОСТ 18576-85 ГОСТ 23829-85 ГОСТ 25346-89 ГОСТ 25347-82 ГОСТ 26266-90 | Приложение 1 1.3 5.1 5.3 5.4 5.1 5.1 1.4.2, 1.4.4, Приложение 4 2.2 1.4.2, 1.4.4, Приложение 4 1.4.1 1.5, 2.9.1, 2.9.2, Приложение 2 Приложение 1 1.4 2.9.3 1.3 |
6. ПЕРЕИЗДАНИЕ. Сентябрь 2001 г.
Настоящий стандарт устанавливает методы ультразвукового контроля стыковых, угловых, нахлесточных и тавровых соединений, выполненных дуговой, электрошлаковой, газовой, газопрессовой, электронно-лучевой и стыковой сваркой оплавлением в сварных конструкциях из металлов и сплавов для выявления трещин, непроваров, пор, неметаллических и металлических включений.
Стандарт не устанавливает методы ультразвукового контроля наплавки.
Необходимость проведения ультразвукового контроля, объем контроля и размеры недопустимых дефектов устанавливаются в стандартах или технических условиях на продукцию.
Пояснения терминов, использованных в настоящем стандарте, приведены в справочном приложении 1.
1. СРЕДСТВА КОНТРОЛЯ
1.1. При контроле должны быть использованы:
ультразвуковой импульсной дефектоскоп (далее - дефектоскоп) не ниже второй группы с преобразователями пьезоэлектрическими;
стандартные образцы для настройки дефектоскопа;
вспомогательные приспособления и устройства для соблюдения параметров сканирования и измерения характеристик выявленных дефектов.
Полная версия

